КорзинаКорзина

Функциональная устойчивость сверхбольших интегральных схем

Функциональная устойчивость сверхбольших интегральных схем
Издательство: Политехника
Год выпуска: 2017
ISBN: 9785732511154, 978-5-7325-115-4
Наличие: На складе
760 р.
Купить Функциональная устойчивость сверхбольших интегральных схемкупить

В монографии рассмотрена проблема оценки качества сверхбольших интегральных схем (СБИС). Прогресс в их изготовлении не обеспечен методологией оценки результатов испытаний на надежность как свойства высокого качества. Для решения данной проблемы вводится понятие "электронного функционала" и предлагается учитывать показатель его функциональной устойчивости, который определяет вероятность динамического явления, а именно сбоя выходных сигналов СБИС. Критически рассматривается возможность ускорения тепловых испытаний на надежность компонентов электронной техники, включая лимит адекватности термодинамической модели старения Аррениуса для дискретных компонентов, а также ее ничтожную достоверность в случае оценки надежности СБИС по функциональному критерию. Для прогноза ресурса СБИС предложена линейная регрессионная модель. Книга рассчитана на научных работников в области разработок СБИС, проектировщиков и испытателей электронной компонентной базы и аппаратуры, аспирантов и студентов по данной специализации, а также может заинтересовать широкий круг соответствующих специалистов в других областях техники.

Товар имеет сертификаты качества и безопасности и соответствует нормам санитарной гигиены. На весь ассортимент распростаняется гарантия. Имеется дисконтная накопительная система, а также корпоративная скидка 10% на заказ от 20 шт. На странице офомления заказа будет дана более развернутая информация о стоимости доставки в ваш регион и о вашей личной скидке.

Книжный раздел

Позвольте Вам предложить