КорзинаКорзина

Контроль параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов

Контроль параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов
Издательство: Лань
Год выпуска: 2018
ISBN: 978-5-8114-3312-4
Наличие: Ограниченное количество
1691 р.
Купить Контроль параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторовкупить

В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассмотрены методы контроля, программы испытаний, конструкции устройств (тестеров) для контроля параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов, приведены описания отечественных и зарубежных тестеров. Монография предназначена для инженерно-технических работников предприятий электронной и радиоэлектронной промышленности, также может быть полезна студентам, обучающимся по направлениям "Радиотехника", "Инфокоммуникационные технологии и системы связи", "Конструирование и технология электронных средств", "Электроника и наноэлектроника", "Электроэнергетика и электротехника" (уровень магистратура), аспирантам направлений "Электроника, радиотехника и системы связи", "Электро- и теплотехника".

Печатное издание имеет сертификаты качества и безопасности и соответствует нормам санитарной гигиены. Прилагается гарантийное обязательство. Действует дисконтная накопительная система, а также корпоративная скидка 10% на заказ от 20 шт. На странице офомления заказа будет дана более исчерпывающая информация о стоимости доставки в ваш регион и о вашей личной скидке.

Книжный раздел

Позвольте Вам предложить